IMECH-IR  > 力学所知识产出(1956-2008)
手持扫描仪式显微图象分析粒度计
贾复; 陈学武; 贾缙
发表期刊分析仪器
1993
期号3页码:28-31,76
ISSN1001-232X
摘要<正> 一、前言目前国内外采用的各种颗粒系粒度测量仪器,主要是依据颗粒的物理、化学性质实现粒度测量。这些粒度计依据其工作原理可分为:显微镜法(即对颗粒平而投影的直接观测法),重力或离心力沉降法和分级法三类。其中历史最为悠久的显微镜法,具有两个重要的特点:(1)可以对颗粒系样本粒子逐个单独进行测量;(2)可对“粒径”进行直接几何量度。目前广泛应用于工业的许多粒度计并不具备这
关键词粒度计 显微图象分析
语种中文
文献类型期刊论文
条目标识符http://dspace.imech.ac.cn/handle/311007/35746
专题力学所知识产出(1956-2008)
通讯作者贾复
推荐引用方式
GB/T 7714
贾复,陈学武,贾缙. 手持扫描仪式显微图象分析粒度计[J]. 分析仪器,1993,3,:28-31,76.
APA 贾复,陈学武,&贾缙.(1993).手持扫描仪式显微图象分析粒度计.分析仪器(3),28-31,76.
MLA 贾复,et al."手持扫描仪式显微图象分析粒度计".分析仪器 .3(1993):28-31,76.
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