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| 薄膜辐射热探测器 | |
竺乃宜 ; 李红德; 邹惠良; 崔季平; 李连祥; 高俊杰; 张瑞智; 董向红; 张敏; 黄文国
| |
| 发表期刊 | 力学学报
 |
| 1978 | |
| 期号 | 3页码:230-233 |
| ISSN | 0459-1879 |
| 摘要 | <正> 薄膜辐射热探测器是一种结构简单,灵敏度高,响应快速的辐射热测量元件,特别适用于短时间超声速设备中的辐射测量,也可以在辐射能的标定中使用。这种探测器是在通常薄膜电阻温度计的表面上覆盖一层碳黑类物质,以增加它的吸收率和扩大吸收谱的宽度,且减少吸收率随波长的变化。 |
| 关键词 | 辐射热探测器 玻璃基片 力学研究所 中国科学院 吸收率 金膜 辐射热测量 分光光度计 反射率 |
| 语种 | 中文 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://dspace.imech.ac.cn/handle/311007/38732 |
| 专题 | 力学所知识产出(1956-2008) |
| 通讯作者 | 竺乃宜 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 竺乃宜,李红德,邹惠良,等. 薄膜辐射热探测器[J]. 力学学报,1978,3,:230-233. |
| APA | 竺乃宜.,李红德.,邹惠良.,崔季平.,李连祥.,...&黄文国.(1978).薄膜辐射热探测器.力学学报(3),230-233. |
| MLA | 竺乃宜,et al."薄膜辐射热探测器".力学学报 .3(1978):230-233. |
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