IMECH-IR  > 力学所知识产出(1956-2008)
新型可控坍塌芯片连接技术(C4)及芯下材料力学性能研究进展
汪海英; 白以龙; 赵亚溥; 刘胜
发表期刊机械强度
2002-09-30
卷号24期号:3页码:315-319
摘要可控坍塌芯片连接 (C4)技术可以实现高速、高密度、小外形的封装 ,因此日渐得到关注和发展。然而 ,随着C4技术的普及 ,C4封装内由于芯片和基板间热膨胀系数 (CTE)的不匹配而引起的可靠性问题将日益突出 ,为此研究者在C4封装中引入芯下材料来提高C4封装的可靠性。文中侧重于制造工艺、可靠性以及最新进展对C4技术进行介绍 ,并且对C4技术中所用的芯下材料的力学性能及其对C4封装可靠性影响的研究现状进行评述
关键词微电子封装 可控坍塌芯片连接技术 芯下材料 力学性能 可靠性
语种中文
文献类型期刊论文
条目标识符http://dspace.imech.ac.cn/handle/311007/41278
专题力学所知识产出(1956-2008)
通讯作者汪海英
推荐引用方式
GB/T 7714
汪海英,白以龙,赵亚溥,等. 新型可控坍塌芯片连接技术(C4)及芯下材料力学性能研究进展[J]. 机械强度,2002,24,3,:315-319.
APA 汪海英,白以龙,赵亚溥,&刘胜.(2002).新型可控坍塌芯片连接技术(C4)及芯下材料力学性能研究进展.机械强度,24(3),315-319.
MLA 汪海英,et al."新型可控坍塌芯片连接技术(C4)及芯下材料力学性能研究进展".机械强度 24.3(2002):315-319.
条目包含的文件
文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
643.pdf(296KB) 开放获取--浏览 下载
个性服务
推荐该条目
保存到收藏夹
查看访问统计
导出为Endnote文件
Lanfanshu学术
Lanfanshu学术中相似的文章
[汪海英]的文章
[白以龙]的文章
[赵亚溥]的文章
百度学术
百度学术中相似的文章
[汪海英]的文章
[白以龙]的文章
[赵亚溥]的文章
必应学术
必应学术中相似的文章
[汪海英]的文章
[白以龙]的文章
[赵亚溥]的文章
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
文件名: 643.pdf
格式: Adobe PDF
此文件暂不支持浏览
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。