IMECH-IR  > 非线性力学国家重点实验室
全内反射测速技术(TIRV)中界面隐失波基准光强I_0的确定
Alternative TitleDetermination of the interfacial evanescent wave base intensity I_0 in total internal reflection velocimetry (TIRV)
史飞; 郑旭; 陈荣前; 李战华
Source Publication实验流体力学
2014-11-27
Volume28Issue:6Pages:80-85
Abstract基于隐失波全内反射的测速技术TIRV (Total internal reflection velocimetry)是微纳流动中测量壁面附近几百纳米范围内速度的有效方法。隐失波的光强分布I(z)随离开壁面的高度z指数衰减。若荧光粒子位于光强分布中,其亮度也将符合此指数关系,通过测量粒子亮度可确定粒子的垂向位置z,而确定隐失波的基准光强I_0是该技术的关键之一。基于粒子近壁Boltzmann浓度分布、粒子粒径不均匀性和隐失波光强公式,给出了粒子亮度概率密度分布的数值解。实验测量粒子统计亮度分布后,依据实验和理论分布相同原则可定量确定基准光强I_0。采用φ100nm和φ250nm荧光粒子验证此方法并定量分析了粒径分散性对确定I_0的影响。进一步采用φ100nm粒子进行近壁速度测量实验,结果验证了本方法的有效性。
Keyword全内反射测速技术(Tirv) 隐失波 基准光强 纳米粒子 亮度分布
Indexed ByCSCD
Language中文
CSCD IDCSCD:5317907
DepartmentLNM微纳米流体力学
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Document Type期刊论文
Identifierhttp://dspace.imech.ac.cn/handle/311007/49527
Collection非线性力学国家重点实验室
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GB/T 7714
史飞,郑旭,陈荣前,等. 全内反射测速技术(TIRV)中界面隐失波基准光强I_0的确定[J]. 实验流体力学,2014,28(6):80-85.
APA 史飞,郑旭,陈荣前,&李战华.(2014).全内反射测速技术(TIRV)中界面隐失波基准光强I_0的确定.实验流体力学,28(6),80-85.
MLA 史飞,et al."全内反射测速技术(TIRV)中界面隐失波基准光强I_0的确定".实验流体力学 28.6(2014):80-85.
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