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Title:
彩虹纹影测量成像系统及方法
Author: 戴国亮; 孙志斌; 代斌; 王静
Available Date: 2014-03-14
Issued Date: 2016-11-30
Country: 中国
Patent Number: ZL201410095199.0
Patent Type: 发明
Abstract: 一种彩虹纹影测量成像系统和方法,该系统包括光源,用于输出光信号;以及沿所述光源输出光信号路径依次设置的第一聚焦透镜、狭缝光阑、第一准直透镜、流场观测区域、第二聚焦透镜、彩虹滤波片、第二准直透镜、数字微阵列反射镜、汇聚透镜和三色单点光电探测器;与三色单点光电探测器电信号连接的压缩算法模块,用于重构彩色图像,依据图像的彩虹纹影计算方法计算出观测流场的密度变化分布。本发明将压缩感知理论与彩虹纹影测量相结合,创造性的提出稀疏彩虹纹影测量方法,具有高通量、高信噪比、快速灵活的特点,适宜于常规光强、弱光、微弱光、超微弱光和单光子彩虹纹影测量方式,是一种大动态范围的稀疏彩虹纹影测量方法。
Language: 中文
Content Type: 专利
URI: http://dspace.imech.ac.cn/handle/311007/59770
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戴国亮,孙志斌,代斌,等. 彩虹纹影测量成像系统及方法. ZL201410095199.0. 2016-11-30.
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