| 纹影测量成像系统及方法 |
| 戴国亮 ; 孙志斌; 代斌; 王静
|
| 2017-01-11
|
| 专利权人 | 中国科学院力学研究所
|
| 摘要 | 一种纹影测量成像系统和方法，该系统包括光源，用于输出光信号；以及沿所述光源输出光信号路径依次设置的第一聚焦透镜、狭缝光阑、第一准直透镜、流场观测区域、第二聚焦透镜、刀口、第二准直透镜、数字微阵列反射镜、汇聚透镜和单点光电探测器；压缩算法模块，其与单点光电探测器电信号连接，用于重构图像，通过对图像的纹影计算方法计算出观测流场的结构分布。本发明将压缩感知理论与纹影测量相结合，创造性的提出稀疏纹影测量方法，具有高通量、高信噪比、快速灵活的特点，适宜于常规光强、弱光、微弱光、超微弱光和单光子纹影测量方式，是一种大动态范围的稀疏纹影测量方法。 |
| 申请日期 | 2014-02-27
|
| 授权日期 | 2017-01-11
|
| 专利号 | ZL201410068835.0
|
| 语种 | 中文
|
| 授权国家 | 中国
|
| 文献类型 | 专利
|
| 条目标识符 | http://dspace.imech.ac.cn/handle/311007/59876
|
| 专题 | 微重力重点实验室
|
推荐引用方式
GB/T 7714 |
戴国亮,孙志斌,代斌,等. 纹影测量成像系统及方法. ZL201410068835.0[P]. 2017-01-11.
|
|
文件名：
|
CN201410068835.pdf
|
|
格式：
|
Adobe PDF
|
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。
修改评论