IMECH-IR  > 非线性力学国家重点实验室
Failure mechanisms of 2D silicon film anodes: in situ observations and simulations on crack evolution
Yang L; Chen HS; Jiang HQ; Wei YJ(魏宇杰); Song WL; Fang DN(方岱宁)
2018-04-18
发表期刊CHEMICAL COMMUNICATIONS
卷号54期号:32页码:3997-4000
ISSN1359-7345
摘要An in situ optical system was used to observe the failure processes of two-dimensional silicon film anodes, suggesting a new debonding mode based on crack crushing. The stress evolution upon lithiation was quantitatively analyzed via fully coupled finite element simulations, confirming the crack crushing induced failure mechanisms in 2D silicon anodes.
DOI10.1039/c7cc09708e
收录类别SCI
语种英语
WOS记录号WOS:000435250100018
关键词[WOS]LITHIUM-ION BATTERIES ; FINITE-ELEMENT-ANALYSIS ; THIN-FILM ; POTENTIOSTATIC OPERATION ; CHEMICAL-EQUILIBRIUM ; RIGID SUBSTRATE ; ELECTRODES ; STRESS ; LITHIATION ; INSERTION
WOS研究方向Chemistry
WOS类目Chemistry, Multidisciplinary
项目资助者National Natural Science Foundation of China(11672341 ; 973 Project(2015CB932500) ; Foundation for Innovative Research Groups of the National Natural Science Foundation of China(11521202) ; National Materials Genome Project(2016YFB0700600) ; Beijing Natural Science Foundation(16L00001) ; 111572002 ; 51302011)
论文分区二类/Q1
力学所作者排名4
引用统计
被引频次:1[WOS]   [WOS记录]     [WOS相关记录]
文献类型期刊论文
条目标识符http://dspace.imech.ac.cn/handle/311007/77513
专题非线性力学国家重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
Yang L,Chen HS,Jiang HQ,et al. Failure mechanisms of 2D silicon film anodes: in situ observations and simulations on crack evolution[J]. CHEMICAL COMMUNICATIONS,2018,54(32):3997-4000.
APA Yang L,Chen HS,Jiang HQ,魏宇杰,Song WL,&方岱宁.(2018).Failure mechanisms of 2D silicon film anodes: in situ observations and simulations on crack evolution.CHEMICAL COMMUNICATIONS,54(32),3997-4000.
MLA Yang L,et al."Failure mechanisms of 2D silicon film anodes: in situ observations and simulations on crack evolution".CHEMICAL COMMUNICATIONS 54.32(2018):3997-4000.
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