| 一种微推力测试系统及方法 |
| 李飞 ; 余西龙; 郭大华
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| 2018-10-12
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| 专利权人 | 中国科学院力学研究所
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| 摘要 | 本发明公开一种微推力测试系统,其适用于1～1000mN，推重比为10‑5～10‑2范围内的推力的测试，在测量带宽足够的情况下，大大提高了测量精度。其包括台架、位移传感器、在线标定组件、阻尼系统、计算机测控设备；所述计算机测控设备包括相连的高频数据采集卡、工控机、显示装置；反射式激光位移传感器采集的位移数据通过工控机处理后经过显示装置来展现；工控机控制升降台的高度，测量标准砝码加载下的摆推力响应，实现稳态推力标定；工控机控制阻尼系统来使台架静止。还提供了采用这种装置的测试方法。 |
| 申请日期 | 2016-05-13
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| 授权日期 | 2018-10-12
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| 专利号 | ZL201610318356.9
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| 语种 | 中文
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| 授权国家 | 中国
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| 代理机构 | 北京和信华成知识产权代理事务所
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| 文献类型 | 专利
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| 条目标识符 | http://dspace.imech.ac.cn/handle/311007/78057
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| 专题 | 高温气体动力学国家重点实验室
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| 作者单位 | 中国科学院力学研究所
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
李飞,余西龙,郭大华. 一种微推力测试系统及方法. ZL201610318356.9[P]. 2018-10-12.
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文件名：
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CN105784237B.pdf
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格式：
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Adobe PDF
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