IMECH-IR  > 流固耦合系统力学重点实验室
微波干涉变形测量及成像系统
范永波
Classification微波干涉变形测量及成像系统
2016
Abstract该系统综合利用合成孔径雷达技术(SAR)、步进频率连续波技术(SF-CW)以及干涉测量技术,可以进行山体及坝体表面位移高精度、全尺度、实时远程测量,是目前世界上最先进的崩塌、滑坡、泥石流、地面沉陷等地质灾害的现场测量设备。IBIS-L系统优势如下所述:   合成孔径雷达:保证了角度向分辨率4.5mrad;步进连续波技术保证了距离向分辨率可达到0.5m;最大的监测区域可达7平方公里。   工作平台:地面。该产品是首次将雷达从空中引入地面,从地面对目标进行监测。监测的成本大大降低。   最远监测距离:IBIS系统的最大监测距离可以达到4公里,能够满足远距离变形监测。   位移精度:干涉测量技术保证了对目标物的监测精度,IBIS系统的位移精度为0.1毫米,完全能够满足野外监测精度需求。
Contact010-82544014
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Document Type仪器设备
Identifierhttp://dspace.imech.ac.cn/handle/311007/79593
Collection流固耦合系统力学重点实验室
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GB/T 7714
范永波. 微波干涉变形测量及成像系统(微波干涉变形测量及成像系统), 2016.
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