微波干涉变形测量及成像系统 | |
范永波 | |
规格/型号 | 微波干涉变形测量及成像系统 |
2016 | |
仪器功能简述 | 该系统综合利用合成孔径雷达技术(SAR)、步进频率连续波技术(SF-CW)以及干涉测量技术,可以进行山体及坝体表面位移高精度、全尺度、实时远程测量,是目前世界上最先进的崩塌、滑坡、泥石流、地面沉陷等地质灾害的现场测量设备。IBIS-L系统优势如下所述: 合成孔径雷达:保证了角度向分辨率4.5mrad;步进连续波技术保证了距离向分辨率可达到0.5m;最大的监测区域可达7平方公里。 工作平台:地面。该产品是首次将雷达从空中引入地面,从地面对目标进行监测。监测的成本大大降低。 最远监测距离:IBIS系统的最大监测距离可以达到4公里,能够满足远距离变形监测。 位移精度:干涉测量技术保证了对目标物的监测精度,IBIS系统的位移精度为0.1毫米,完全能够满足野外监测精度需求。 |
联系方式 | 010-82544014 |
预约网址 | 查看原文 |
文献类型 | 仪器设备 |
条目标识符 | http://dspace.imech.ac.cn/handle/311007/79593 |
专题 | 流固耦合系统力学重点实验室 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 范永波. 微波干涉变形测量及成像系统(微波干涉变形测量及成像系统), 2016. |
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s035.jpg(14KB) | 仪器设备 | 开放获取 | MIT License | 浏览 下载 |
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