IMECH-IR  > 流固耦合系统力学重点实验室
高能扫描层析分析系统
李华
ClassificationAL-CT-225
2016
Abstract"该系统通过高清晰投影实现对被扫描样品的高分辨率DR成像,利用专用三维快速重建以及可视化建模软件,实现对样品的层析成像以及内部三维信息的可视化,同时借助软件的辅助分析功能,实现对物体的快速CT质量检测及尺寸测量等。,主要技术指标: 1.X射线源:最大电压225KV,最大电流8mA,焦点尺寸为1.0mm/0.4mm。 2.最大穿透能力25mm(钢Q235)。 3.冷却方式:采用封闭水制冷方式。 4.成像方式:实时成像检测(二维)和工业CT扫描(三维)。 5.平板成像系统:有效成像视野19.5(h)×24.4(v)cm。 6.系统分辨率:2D≥3.6LP/mm。"
Contact13651028575
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Document Type仪器设备
Identifierhttp://dspace.imech.ac.cn/handle/311007/79601
Collection流固耦合系统力学重点实验室
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GB/T 7714
李华. 高能扫描层析分析系统(AL-CT-225), 2016.
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