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Multi-Scale Characterizations for Ductile Thin Film Delamination 会议论文
IUTAM Symposium on Size Effects on Material and Structural Behavior at Micron- and Nano-Scales, MAY 31-JUN 04, 2004 Hong Kong Univ Sci & Technol, Hong Kong, PEOPLES R CHINA
作者:  Wei YG(魏悦广);  Xu GS
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Scaling, Dimensional Analysis, and Indentation Measurements 期刊论文
Materials Science & Engineering R-Reports, 2004, 卷号: 44, 期号: 4, 页码: 91-149
作者:  Cheng YT;  Zheng ZM(郑哲敏);  Cheng, YT (reprint author), GM Corp, Ctr Res & Dev, Mat & Proc Lab, Warren, MI 48090 USA.
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