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入射角度扫描椭偏成像测量方法和装置 专利
发明专利. 入射角度扫描椭偏成像测量方法和装置, 专利号: ZL2004100382619, 申请日期: 2004-05-18, 授权日期: 2012-12-28
Inventors:  靳刚;  孟永宏
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光谱椭偏成像系统研究 学位论文
硕士论文,北京: 中国科学院研究生院, 2007
Authors:  孟永宏
Adobe PDF(2859Kb)  |  Favorite  |  View/Download:356/5  |  Submit date:2009/04/13