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Failure mechanisms of 2D silicon film anodes: in situ observations and simulations on crack evolution 期刊论文
CHEMICAL COMMUNICATIONS, 2018, 卷号: 54, 期号: 32, 页码: 3997-4000
作者:  Yang L;  Chen HS;  Jiang HQ;  Wei YJ(魏宇杰);  Song WL;  Fang DN(方岱宁)
浏览  |  Adobe PDF(3014Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：352/126  |  提交时间：2018/07/17