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Multi-Scale Characterizations for Ductile Thin Film Delamination 会议论文
IUTAM Symposium on Size Effects on Material and Structural Behavior at Micron- and Nano-Scales, MAY 31-JUN 04, 2004 Hong Kong Univ Sci & Technol, Hong Kong, PEOPLES R CHINA
作者:  Wei YG(魏悦广);  Xu GS
Adobe PDF(295Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：628/200  |  提交时间：2007/12/18