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Strengthening brittle semiconductor nanowires through stacking faults: Insights from in situ mechanical testing 期刊论文
NANO LETTERS, 2013, 卷号: 13, 期号: 9, 页码: 4369-4373
作者:  Chen B;  Wang J(王军);  Gao Q;  Chen YJ;  Liao XZ;  Lu CS;  Tan HH;  Mai YW;  Zou J;  Ringer SP;  Gao HJ;  Jagadish C;  Liao, XZ (reprint author), Univ Sydney, Sch Aerosp Mech & Mechatron Engn, Sydney, NSW 2006, Australia.
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Gaas Nanowires  Strengthening  Stacking Fault  In Situ Deformation  Molecular Dynamics  Transmission Electron Microscopy  
Grain size effect on deformation twinning and detwinning 期刊论文
JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE, 2013, 卷号: 48, 期号: 13, 页码: 4467-4475
作者:  Zhu YT;  Liao XZ;  Wu XL(武晓雷);  Narayan J;  Zhu, YT (reprint author), N Carolina State Univ, Dept Mat Sci & Engn, Box 7907, Raleigh, NC 27695 USA.
Adobe PDF(635Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：1272/440  |  提交时间：2013/05/14
Deformation Mechanism  Deformation Twinning  Detwinning  Grain Size  Grain Size Effect  Grain Boundaries  Fcc Metals  Coarse-grained  Nanocrystallines  Optimum Grain-size  Twin Boundaries