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彩虹纹影测量成像系统及方法 专利
发明专利. 彩虹纹影测量成像系统及方法, 专利号: ZL201410095199.0, 申请日期: 2014-03-14, 授权日期: 2016-11-30
发明人:  戴国亮;  孙志斌;  代斌;  王静
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不同基板对羟基磷灰石生长的影响 期刊论文
化学工程与装备, 2016, 期号: 06, 页码: 57-59
作者:  陈珈璐;  戴国亮;  李维火
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晶体生长  羟基磷灰石  基板  模拟体液