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中国科学院力学研究所机构知识库
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2017 [1]
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纹影测量成像系统及方法
专利
发明专利. 纹影测量成像系统及方法, 专利号: ZL201410068835.0, 申请日期: 2014-02-27, 授权日期: 2017-01-11
发明人:
戴国亮
;
孙志斌
;
代斌
;
王静
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提交时间：2017/01/16
