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中国科学院力学研究所机构知识库
Knowledge Management System of Institue of Mechanics, CAS
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Study on copper protrusion of through-silicon via in a 3-D integrated circuit
期刊论文
MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING A-STRUCTURAL MATERIALS PROPERTIES MICROSTRUCTURE AND PROCESSING, 2019, 卷号: 755, 页码: 66-74
作者:
Song M
;
Wei ZQ(魏志全)
;
Wang BY
;
Chen L
;
Chen L
;
Szpunar JA
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提交时间:2019/11/27
Through-silicon via
Cu protrusion
Annealing temperature
Electron backscatter diffraction
Finite element analysis
A General Strategy for Stretchable Microwave Antenna Systems using Serpentine Mesh Layouts
期刊论文
ADVANCED FUNCTIONAL MATERIALS, 2017, 卷号: 27, 期号: 46
作者:
Chang T
;
Tanabe Y
;
Wojcik CC
;
Barksdale AC
;
Doshay S
;
Dong ZY
;
Liu H
;
Zhang MY
;
Chen YL
;
Su YW(苏业旺)
;
Lee TH
;
Ho JS
;
Fan JA
;
Fan, JA (reprint author), Stanford Univ, Dept Elect Engn, Stanford, CA 94305 USA.
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提交时间:2017/12/27
Antennas
Microwaves
Serpentine Meshs
Stretchable Electronics
Strain-Limiting Substrates Based on Nonbuckling, Prestrain-Free Mechanics for Robust Stretchable Electronics
期刊论文
JOURNAL OF APPLIED MECHANICS-TRANSACTIONS OF THE ASME, 2017, 卷号: 84, 期号: 12, 页码: 121010
作者:
Zhang MY
;
Liu H
;
Cao P
;
Chen B
;
Hu JQ(胡剑桥)
;
Chen YL
;
Pan B
;
Fan JA
;
Li R
;
Zhang LJ
;
Su YW(苏业旺)
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提交时间:2017/12/18
Strain-limiting Substrates
Nonbuckling
Prestrain-free Design
Stretchable Electronics
The main factor influencing the tensile properties of surface nano-crystallized graded materials
期刊论文
Materials Science and Engineering A-Structural Materials Properties Microstructure and Processing, 2010, 卷号: 527, 期号: 26, 页码: 7040-7044
作者:
Li JJ(李建军)
;
Chen SH(陈少华)
;
Wu XL(武晓雷)
;
Soh A
;
Lu JA
;
Chen SH
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提交时间:2011/03/01
Surface Nano-crystallized Graded Material
Residual Stress
Work Hardening
Finite Element Method
Mechanical Attrition Treatment
Severe Plastic-deformation
Kelvin Probing Technique
Stainless-steel
Nanocrystalline Surface
Fatigue Resistance
Residual-stresses
Ultrafine Grain
Yield Strain
Nickel-alloy
Quartz crystal microbalance study of the kinetics of surface initiated polymerization
期刊论文
Science in China Series B-Chemistry, 2009, 卷号: 52, 期号: 12, 页码: 2307-2322
作者:
Chen XA
;
Zhang YZ
;
He JA
;
Xiong CY
;
Meng YH(孟永宏)
;
Jin G(靳刚)
;
Ma HW
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提交时间:2011/03/01
Measurement of Young’s modulus and residual stress of copper filmelectroplated on silicon wafer
期刊论文
Thin Solid Films, 2004, 卷号: 460, 期号: 1, 页码: 175-180
作者:
Zhou Y
;
Yang CS
;
Chen JA
;
Ding GF,
;
Ding W
;
Wang L
;
Wang MJ
;
Zhang YM
;
张泰华
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提交时间:2007/06/15
Microbridge testing of Young's modulus and residual stress of nickel film electroplated on silicon wafer
期刊论文
Acta Metallurgica Sinica(English Letters), 2004, 卷号: 17, 期号: 3, 页码: 247-254
作者:
Zhou Y
;
Yang CS
;
Chen JA
;
Ding GF
;
Wang L
;
Wang MJ
;
Zhang YM
;
Zhang TH(张泰华)
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提交时间:2015/09/14
Nickel Film Microbridge
Mems
Mechanical Property
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