中文版 | English

在结果中检索

IMECH-IR

浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助

限定条件        
已选(0)清除 条数/页：   排序方式：
薄膜微区域变形的微标记阵列检测方法研究 期刊论文
光子学报, 2005, 卷号: 34, 期号: 5, 页码: 737-741
作者:  魏成;  李喜德;  黄静波;  施惠基;  张泰华
Adobe PDF(609Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：436/138  |  提交时间：2010/05/03
薄膜  微区域变形  微压痕  标记法  微缺陷