IMECH-IR  > 微重力重点实验室
一种单离子检测方法和装置
刘巍; 牛宇; 罗子人
2022-04-05
专利权人中国科学院力学研究所
摘要本发明属于光学精密测量技术领域,针对光学生物传感器灵敏度不足、无法对单个离子或带电小分子相互作用分析的问题,本发明公开了一种基于单离子成像检测方法和装置,全内反射椭偏成像仪的探测光束,经电调制奇点耦合差分成像反应单元反射后,汇聚于CCD或CMOS探测器,所采集的传感表面图像数据传输给信号处理单元,通过对工作传感表面和参比传感表面的差分信号进行频谱分析,消除共模噪声,在频谱上选取调制信号所在峰值强度进行滤波,获得固液界面处单个离子或带电分子间的相互作用实时信号。本申请基于椭偏相位在表面等离子体共振角处的奇点效应及相应光学信号噪声抑制方案,能够实时观测单个离子或带电分子在固相表面的吸附及其物化反应。
申请日期2021-03-23
授权日期2022-04-05
专利号ZL202110308022.4
语种中文
授权国家中国
代理机构北京和信华成知识产权代理事务所
文献类型专利
条目标识符http://dspace.imech.ac.cn/handle/311007/90053
专题微重力重点实验室
作者单位中国科学院力学研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
刘巍,牛宇,罗子人. 一种单离子检测方法和装置. ZL202110308022.4[P]. 2022-04-05.
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