| 一种基于光强时间积分的光谱测量衰荡时间的推算方法 |
| 杨乾锁 ; 黄知秋
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| 2022-09-30
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| 专利权人 | 中国科学院力学研究所
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| 摘要 | 本发明公开了一种基于光强时间积分的光谱测量衰荡时间的推算方法，包括以下步骤：获取腔衰荡吸收光谱测试中的包含完整衰荡过程的测试数据，生成衰荡曲线；从测试数据中选择多个用于推算光谱测量衰荡时间的分析时间点；从衰荡曲线分别确定多个分析时间点对应的测试数据，利用光强‑时间积分方法分别计算多个分析时间点的事件积分值；利用衰荡时间计算公式处理多个事件积分值，以确定完整衰荡过程的衰荡时间值；本发明选择衰荡过程中的多个衰荡数据段进行积分处理，利用积分值简单地推算衰荡事件的衰荡时间，使用过程简单、计算机运行时间相对较短，且其推算精度不低于传统的最小均方差拟合方法。 |
| 申请日期 | 2021-07-07
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| 授权日期 | 2022-09-30
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| 专利号 | ZL202110766267.1
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| 语种 | 中文
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| 授权国家 | 中国
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| 代理机构 | 北京和信华成知识产权代理事务所
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| 文献类型 | 专利
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| 条目标识符 | http://dspace.imech.ac.cn/handle/311007/91136
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| 专题 | 流固耦合系统力学重点实验室
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| 作者单位 | 中国科学院力学研究所
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
杨乾锁,黄知秋. 一种基于光强时间积分的光谱测量衰荡时间的推算方法. ZL202110766267.1[P]. 2022-09-30.
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文件名：
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CN113567366A.pdf
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格式：
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Adobe PDF
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