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一种同时观测晶体形貌及测量晶体周围浓度场的装置 专利
发明专利. 一种同时观测晶体形貌及测量晶体周围浓度场的装置, 专利号: ZL201921593420.X, 申请日期: 2019-09-24, 授权日期: 2020-06-19
Inventors:  戴国亮;  史建平
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纹影测量成像系统及方法 专利
发明专利. 纹影测量成像系统及方法, 专利号: ZL201410068835.0, 申请日期: 2014-02-27, 授权日期: 2017-01-11
Inventors:  戴国亮;  孙志斌;  代斌;  王静
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彩虹纹影测量成像系统及方法 专利
发明专利. 彩虹纹影测量成像系统及方法, 专利号: ZL201410095199.0, 申请日期: 2014-03-14, 授权日期: 2016-11-30
Inventors:  戴国亮;  孙志斌;  代斌;  王静
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