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入射角度扫描椭偏成像测量方法和装置 专利
发明专利. 入射角度扫描椭偏成像测量方法和装置, 专利号: ZL2004100382619, 申请日期: 2004-05-18, 授权日期: 2012-12-28
发明人:  靳刚;  孟永宏
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椭偏光学显微成像系统中的图像采集及处理技术 期刊论文
光学精密工程, 2000, 卷号: 8, 期号: 4, 页码: 316
作者:  孟永宏;  靳刚
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椭偏成像  图像采集  图像处理