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Title: 全内反射测速技术(TIRV)中界面隐失波基准光强I_0的确定
Alternative Title: Determination of the interfacial evanescent wave base intensity I_0 in total internal reflection velocimetry (TIRV)
Author: 史飞; 郑旭; 陈荣前; 李战华
Source: 实验流体力学
Issued Date: 2014-11-27
Volume: 28, Issue:6, Pages:80-85
Abstract: 基于隐失波全内反射的测速技术TIRV (Total internal reflection velocimetry)是微纳流动中测量壁面附近几百纳米范围内速度的有效方法。隐失波的光强分布I(z)随离开壁面的高度z指数衰减。若荧光粒子位于光强分布中,其亮度也将符合此指数关系,通过测量粒子亮度可确定粒子的垂向位置z,而确定隐失波的基准光强I_0是该技术的关键之一。基于粒子近壁Boltzmann浓度分布、粒子粒径不均匀性和隐失波光强公式,给出了粒子亮度概率密度分布的数值解。实验测量粒子统计亮度分布后,依据实验和理论分布相同原则可定量确定基准光强I_0。采用φ100nm和φ250nm荧光粒子验证此方法并定量分析了粒径分散性对确定I_0的影响。进一步采用φ100nm粒子进行近壁速度测量实验,结果验证了本方法的有效性。
Keyword: 全内反射测速技术(TIRV) ; 隐失波 ; 基准光强 ; 纳米粒子 ; 亮度分布
Language: 中文
Indexed Type: CSCD
Rank: 中国计量学院计量测试工程学院;中国科学院力学研究所;
CSCD ID: 5317907
Department: LNM微纳米流体力学
Citation statistics:
Content Type: 期刊论文
URI: http://dspace.imech.ac.cn/handle/311007/49527
Appears in Collections:非线性力学国家重点实验室_期刊论文

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史飞;郑旭;陈荣前;李战华;.全内反射测速技术(TIRV)中界面隐失波基准光强I_0的确定,实验流体力学,2014,(6):80-85
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