高能扫描层析分析系统 | |
李华 | |
规格/型号 | AL-CT-225 |
2016 | |
仪器功能简述 | "该系统通过高清晰投影实现对被扫描样品的高分辨率DR成像,利用专用三维快速重建以及可视化建模软件,实现对样品的层析成像以及内部三维信息的可视化,同时借助软件的辅助分析功能,实现对物体的快速CT质量检测及尺寸测量等。,主要技术指标: 1.X射线源:最大电压225KV,最大电流8mA,焦点尺寸为1.0mm/0.4mm。 2.最大穿透能力25mm(钢Q235)。 3.冷却方式:采用封闭水制冷方式。 4.成像方式:实时成像检测(二维)和工业CT扫描(三维)。 5.平板成像系统:有效成像视野19.5(h)×24.4(v)cm。 6.系统分辨率:2D≥3.6LP/mm。" |
联系方式 | 13651028575 |
预约网址 | 查看原文 |
文献类型 | 仪器设备 |
条目标识符 | http://dspace.imech.ac.cn/handle/311007/79601 |
专题 | 流固耦合系统力学重点实验室 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 李华. 高能扫描层析分析系统(AL-CT-225), 2016. |
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s043.jpg(45KB) | 仪器设备 | 开放获取 | MIT License | 浏览 下载 |
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