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An in situ system for simultaneous stress measurement and optical observation of silicon thin film electrodes 期刊论文
JOURNAL OF POWER SOURCES, 2019, 卷号: 444, 页码: 5
作者:  Chen J;  Yang L;  Han Y;  Bao YH;  Zhang KL;  Li X;  Pang J;  Chen HS;  Song WL;  Wei YJ(魏宇杰);  Fang DN
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Lithium ion batteries  Silicon film  Multi-beam optical sensor (MOS)  in situ stress measurement  Colorimetric method  
Thermal conductivity modeling using machine learning potentials: application to crystalline and amorphous silicon 期刊论文
MATERIALS TODAY PHYSICS, 2019, 卷号: 10, 页码: UNSP 100140
作者:  Qian X.;  彭神佑.;  Li X.;  Wei YJ(魏宇杰);  Yang R.
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Thermal conductivity  Machine learning  Molecular dynamics  Phonons  
Wrinkle-Free Single-Crystal Graphene Wafer Grown on Strain-Engineered Substrates 期刊论文
ACS NANO, 2017, 卷号: 11, 期号: 12, 页码: 12337-12345
作者:  Deng B;  Pang ZQ(庞振乾);  Chen SL;  Li X;  Meng CX;  Li JY;  Liu MXi;  Wu JX;  Qi Y;  Dang WHi;  Yang H;  Zhang YF;  Zhang J;  Kang N;  Xu HQ;  Fu Q;  Qiu XH;  Gao P;  Wei YJ(魏宇杰);  Liu ZF;  Peng HL
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Graphene Wrinkle  Ultraflat  Strain Engineering  Single Crystal  Thermal Mismatch